- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2002
Кількість сторінок:
172
Артикул:
138595 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование магнитокалорического эффекта в манганитах
- Кинетические и магнитные свойства разбавленных магнитных полупроводников Cd1-xMnxGeAs2 и Cd1-xMnxGeP2 при высоком давлении до 7 ГПа
- Возбуждение и преобразование центров окраски кристаллов LiF и MgF2 в интенсивных радиационных и оптических полях
- Фотостимулированное дефектообразование и молекулярные процессы на поверхности широкощелевых галогенидов и оксидов металлов
- Перестройка атомной структуры расплавов железа и палладия в процессе стеклования
- Полевая электронная эмиссия субмикрокристаллических металлов, полученных интенсивной пластической деформацией
- Влияние примесного состава и стехиометрии раствора на кинетику роста кристаллов DKDP и KDP
- Исследование микро- и нанодоменных структур в монокристаллах ниобата лития методом сканирующей лазерной конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния
- Изучение структуры и свойств покрытий на основе переходных металлов и их карбидов, полученных с помощью концентрированных потоков энергии
- Электрооптика изотропных расплавов смектических жидких кристаллов