- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2002
Кількість сторінок:
172
Артикул:
138595 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Новые кинетические явления в полупроводниковых электронных системах низкой размерности
- Исследование динамики квазичастиц в трех- и двумерных электронных системах в рамках многочастичной теории возмущений
- Кристаллографические, энергетические и кинетические свойства собственных точечных дефектов и их кластеров в ОЦК железе
- Пути и закономерности эволюции дислокационных субструктур при усталости и волочении
- Мессбауэровская спектроскопия железосодержащих кристаллов в обыкновенных хондритах
- Термодинамические условия образования пространственно-периодических структур в эвтектических системах
- Магнитная и кристаллическая структура сплавов на основе гамма-марганца
- Оптические явления в пленках манганитов лантана с колоссальным магнитосопротивлением
- Фотопроводимость фосфида галлия, сильно компенсированного медью
- Кинетика ?>? превращения в Fe и углеродистых сталях при ускоренном нагреве и организация многочастичных систем