Ви є тут

Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии

Автор: 

Федоров Алексей Алексеевич

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2002

Кількість сторінок: 

172

Артикул:

138595

179 грн

Додати в кошик

Рекомендовані дисертації

• Люминесценция фосфатных стекол, легированных Dy3+ и Eu3+
• Самозбірка низькорозмірних систем AI, Ni, Ti та Si за умов близькорівноважної конденсації
• Коллективные эффекты в электрон-электронных и электрон-дырочных слоях
• Закономерности формирования, структурные особенности и свойства покрытий на основе фосфатов кальция, полученных ВЧ-магнетронным осаждением
• Тепловые и акустические свойства соединений II-VI с примесями 3d-переходных металлов
• Комплексная проводимость пленок классических и высокотемпературных сверхпроводников в субмиллиметровом диапазоне
• Нелинейные эффекты в оптике и механике неоднородных приграничных слоев металлов и полупроводников
• Влияние легирования на дефектную структуру и явления переноса в простых оксидах металлов, вольфраматах и оксишпинелях
• Фотостимулированные процессы испарения и десорбции с поверхности сульфида и селенида кадмия
• Смена механизмов резистивности ВТСП плёнок при переходе в сверхпроводящее состояние