Вы здесь

Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии

Автор: 
Федоров Алексей Алексеевич
Тип работы: 
кандидатская
Год: 
2002
Количество страниц: 
172
Артикул:
138595
179 грн
Добавить в корзину