- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Тип работы:
кандидатская
Год:
2002
Количество страниц:
172
Артикул:
138595 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Влияние дестабилизирующих воздействий на механические свойства аморфных сплавов
- Магнитная и кристаллическая структура сплавов на основе гамма-марганца
- Низкоэнергетичные электронные переходы и оптические фононы в полупроводниковых фазах La2 CuO4+x и фуллерите C60
- Макроскопические флуктуации теплоты диссипации в переходных процессах при плавлении кристаллических веществ
- Зернограничная сегрегация в бинарных системах с ограниченной растворимостью
- Изучение методом ОЖЕ-спектроскопии влияния облучения и температуры растяжения на элементный состав поверхностей разрушения сталей
- Иерархические модели атомного строения икосаэдрических и кубических апериодических фаз : квазикристаллов
- Распространение света в неоднородных коллоидных фотонных кристаллах
- Влияние неравновесных состояний меди на фотопроводимость фосфида галлия
- Взаимодействие мощного электромагнитного излучения с неравновесными носителями в германии при низких температурах