- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Комплексное исследование полупроводниковых соединений Cu2-xS с использованием метода ЯКР 63,65Cu
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2007
Кількість сторінок:
118
Артикул:
7272 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Гетероструктуры с квантовыми точками InGaAs/AlGaAs/GaAs и InAs/InGaAs/InP для лазерных применений
- Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе ?-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
- Электронно-колебательные переходы с глубоких примесных центров в электрических полях контактов металл - GaAs
- Электронный транспорт в наноструктурах с резкими потенциальными границами на основе гетероперехода AlGaAs/GaAs
- Теплопроводность халькогенидов свинца и твердых растворов на основе PbTe
- Радиоэлектрический эффект в гетероструктурах карбид кремния на кремнии
- Моделирование электронной структуры квантовых точек Ge B Si
- Структурная модификация свойств аморфного гидрогенизированного углерода
- Вейвлет-анализ шумовых процессов в полупроводниковых структурах
- Фотохимически активные и неактивные глубокие центры в бинарных (A2B6 , A3 B5 ) и многокомпонентных (A4 B6 , A2A3 B6 ) широкозонных полупроводиках