- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Комплексное исследование полупроводниковых соединений Cu2-xS с использованием метода ЯКР 63,65Cu
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2007
Кількість сторінок:
118
Артикул:
7272 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Особенности распределения азота в азотосодержащих GaAs1-yNy и InxGa1-xAs1-yNy твердых растворах
- Исследование фотоэлектрических процессов в фотоприемниках на основе диодов Шоттки и приборов с зарядовой связью
- Закономерности оптических и колебательных спектров твердых растворов Ti1-xCuxInS2(0≤X≤0,015)
- Радиационное дефектообразование при ионной имплантации в варизонных полупроводниковых структурах CdxHg1-xTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
- Брэгговское отражение поверхостных акустических волн Рэлея от ограниченной периодической системы неровностей на поверхности упругого тела
- Фотоэлектрические и рекомбинационные свойства эпитаксиальных структур на основе HgCdTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
- Влияние неоднородности толщины диэлектрика на свойства туннельных МОП структур Al/(1-4 нм)SiO2/Si
- Электронная микроскопия полупроводниковых структур с наноразмерными включениями
- Модифицирование дефектной структуры полупроводников низкоэнергетическими воздействиями
- Собственное оптическое поглощение и люминесценция твердых растворов полупроводников A3B5