Ви є тут

Комплексное исследование полупроводниковых соединений Cu2-xS с использованием метода ЯКР 63,65Cu

Автор: 

Сафонов Александр Николаевич

Тип роботи: 

диссертация кандидата физико-математических наук

Рік: 

2007

Кількість сторінок: 

118

Артикул:

7272

179 грн

Додати в кошик

Рекомендовані дисертації

• Электрические и рекомбинационные свойства нейтронно-легированных твердых растворов Si1-x Ge x со стороны кремния
• Дефекты, кристаллографическое упорядочение, свойства оксидов со структурой граната
• Образование дефектов в полупроводниковых соединениях Cd/x Hg/1-x Te под действием облучения
• Физические принципы разработки термоэлектрических материалов на основе соединений кремния
• Фотоиндуцированные электронные процессы и структурные перестройки в полупроводниковых системах пониженной размерности
• Влияние водородсодержащих газов на электрические характеристики МДП-структур и МДП-диодов
• Спектры электронных локальных состояний в фотопроводнике поливинилкарбазоле, применяемом в электрофотографии
• Исследование особенностей проявления дисперсионных сил в наноразмерных слоистых структурах на основе кремния
• Исследование электрофизических свойств двухкомпонентной слоистой структуры, состоящей из жидких органических веществ
• Гальваномагнитные свойства слоев магнитных полупроводников InMnAs, GaMnAs и полуметаллических соединений MnAs, MnP