- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование влияния дефектов решетки на свойства монокристаллов CdSiAs2
Тип роботи:
ил РГБ ОД 61
Рік:
1465
Артикул:
7544 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Получение и исследование электрофизических свойств объемных и пленочных материалов в тройной системе Co-Ge-Te
- Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
- Физические свойства сложных кристаллов, обусловленные длиннопериодной структурой
- Метастабильность состояния в легированных бором и фосфором пленках a-Si:H, возникающие под влиянием внешних воздействий
- Трехканальный детектор на основе РОС гетеролазеров InGaAs для мониторинга
- Двухволновая модуляционная спектроскопия неравновесных электронов в полупроводниковых структурах
- Радиационно-физические процессы в облученных нейтронами полупроводниковых соединениях антимонида и фосфида индия
- Исследование эффективности InxGa1-xN/GaN светодиодов
- Исследование свойств светоизлучающих эпитаксиальных GaAs структур, содержащих ферромагнитные слои
- Исследование электрических и емкостных свойств слоев пористого кремния различной морфологии и пористости