Вы здесь

Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии

Автор: 
Усеинов Алексей Серверович
Тип работы: 
Дис. канд. физ.-мат. наук
Год: 
2004
Артикул:
7458
179 грн
Добавить в корзину