- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
Тип роботи:
Дис. канд. физ.-мат. наук
Рік:
2004
Артикул:
7458 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Экситоны, связанные на изоэлектронных примесях в многодолинных полупроводниках с вырожденными зонами: азот и висмут в GaP
- Создание газовых сенсоров на основе тонких пленок диоксида олова
- Стимулированное дальнее ИК-излучение в одноосно деформированном p-Ge и напряженных гетероструктурах SiGe/Si
- Многопереходные солнечные элементы, содержащие субэлемент на основе германия
- Арсенид галлия
- Размерное квантование и туннелирование электронов в фотоэмиссии из p+-GaAs(Cs,O)
- Закономерности оптических и колебательных спектров твердых растворов Ti1-xCuxInS2(0X0,015)
- Температурная зависимость теплоемкости твердых растворов системы арсенид галлия - фосфид индия - арсенид индия в области 5 - 300 К.
- Фотоиндуцированные эффекты в аморфном кремнии и приборных структурах на его основе
- Рост и спектрально-люминесцентные свойства монокристаллов Na0,4 (Y,R)0,6 F22 (R-редкоземельные ионы) в коротковолновом диапазоне длин волн