- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
Тип роботи:
Дис. канд. физ.-мат. наук
Рік:
2004
Артикул:
7458 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Изучение состояния фоновых примесей кислорода и углерода в арсениде галлия
- Исследование физических процессов в многослойных полупроводниковых структурах, выключаемых током управления
- Электронная структура, состав и фотолюминесценция пористого кремния
- Самоупорядоченные наноразмерные структуры на основе твердого раствора кремний-германий, полученные методом ионной имплантации
- Влияние адсорбционного покрытия поверхности кремниевых нанокристаллов на электронные и оптические свойства их ансамблей
- Физико-химические процессы в МОП-структурах, облученных альфа- и бета-частицами
- Планарная неоднородность фоточувствительности кремниевых фотоэлектрических преобразователей
- Рост и спектрально-люминесцентные свойства монокристаллов Na0,4 (Y,R)0,6 F22 (R-редкоземельные ионы) в коротковолновом диапазоне длин волн
- Разработка методов улучшения параметров монокристаллических элементов акустоэлектроники на основе исследования анизотропии кристаллов
- Кинетические свойства полупроводниковых кристаллов, легированных магнитными примесями