- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
Тип роботи:
Дис. канд. физ.-мат. наук
Рік:
2004
Артикул:
7458 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Влияние преципитации и изоэлектронной ионной имплантации на дефектообразование в монокристаллическом кремнии
- Излучательная рекомбинация дырок на уровнях размерного квантования в дельта- ?-легированном арсениде галлия
- Температурная зависимость теплоемкости твердых растворов системы арсенид галлия - фосфид индия - арсенид индия в области 5 - 300 К.
- Моделирование и исследование фоточувствительных полупроводниковых приборов с N-образными вольт-амперными характеристиками
- Создание и исследование локализованных одномерных и двумерных наноструктур для систем диагностики
- Ионно-лучевой синтез силицидов металлов подгруппы железа в кремнии
- Полупроводниковые приборы для быстрой коммутации больших мощностей и новые технологические методы их изготовления
- Массоперенос в полупроводниковых материалах с участием жидкой фазы
- Межзеренный фотовольтаический эффект в тонкопленочных сегнетоэлектрических структурах M/Pb(Zr,Ti)O3/M
- Квантовые точки как активная среда оптоэлектронных приборов