- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
Тип роботи:
Дис. канд. физ.-мат. наук
Рік:
2004
Артикул:
7458 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Процессы рекомбинации и разогрева носителей заряда в наноструктурах с квантовыми ямами
- Разработка и исследование гетероструктур InGaAsP/InР легированных различными примесями для высокоэффективных излучателей
- Исследование электронных состояний на поверхности теллура при низких температурах
- Влияние электрического поля на процессы формирования низкочастотного шума в барьерах Шоттки
- Исследование физической природы гетеропереходов органический-неорганический полупроводник и их применение
- Туннельная спектроскопия двумерной электронной системы приповерхностного дельта-легированного слоя в GaAs
- Исследование электрических и оптических свойств дислокационных сеток в кремнии
- Исследование пробоя щелочно-галоидных кристаллов импульсами лазерного излучения лямбда=10,6 МКМ
- Многокомпонентные твердые растворы на основе GaSb и InAs, полученные из растворов-расплавов, обогащенных сурьмой
- Исследования волн пространственного заряда в магнитном поле в высокоомных полупроводниках