- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
Тип роботи:
Дис. канд. физ.-мат. наук
Рік:
2004
Артикул:
7458 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Влияние микро- и наноструктурирования на оптические свойства кремниевых слоев
- Фотоэлектрическая спектроскопия гетероструктур с квантовыми точками GaAs/InAs
- Влияние бомбардировки полупроводников заряженными частицами на их электронное возбуждение диссоциированными газами
- Влияние электрического поля на процессы формирования низкочастотного шума в барьерах Шоттки
- Лазерная спектроскопия неравновесных процессов в полупроводниковых квантовых нитях и точках
- Исследование влияния объемного заряда на характеристики тонкопленочных электролюминесцентных излучателей на основе сульфида цинка, легированного марганцем
- Управление концентрацией свободных носителей заряда в кремниевой наноструктуре
- Влияние примесей и молекулярного окружения на оптические свойства квантовых точек селенида кадмия
- Электронно-зондовые исследования слоев GaA3 и структур на их основе
- Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе Z-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда