Вы здесь

Разработка методики оценки допустимых уровней дефектности тонких металлических пленок

Автор: 
Тыщишин Василий Васильевич
Тип работы: 
кандидатская
Год: 
1999
Количество страниц: 
129
Артикул:
233262
179 грн
Добавить в корзину