- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Разработка методики оценки допустимых уровней дефектности тонких металлических пленок
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
1999
Кількість сторінок:
129
Артикул:
233262 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование процесса и разработка установки финишной обработки микроприборов потоком твердых частиц
- Теоретические и экспериментальные исследования ионизационных преобразователей давления с целью расширения диапазона измерения и создания нового поколения высоковакуумных и сверхвысоковакуумных ионизационных преобразователей давления общего и специального
- Новые технохимические процессы и оборудование жидкостного химического снятия слоев полимеров в планарном микроэлектронном производстве
- Исследование и разработка пространственных колебательных систем для балансировки неуравновешенных роторов оборудования чистых производств
- Система диагностики механических элементов вакуумного оборудования
- Разработка методов и средств контроля параметров рекуперации реагентов в безотходных технохимических процессах планарного микроэлектронного производства
- Моделирование и проектирование электронно-оптических систем оборудования для электронной литографии
- Разработка методики оценки допустимых уровней дефектности тонких металлических пленок : Применительно к сборке ИС в полимерные корпуса
- Разработка и исследование элементной базы интегрированных вакуумных систем и создание на их основе оборудования высоких технологий производства изделий электронной техники
- Моделирование и разработка широкоугольных электронно-оптических систем прецизионного электронно-лучевого оборудования