ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ.
Глава 1. ЛИТЕРАТУРНЫЙ ОБЗОР
1.1. Семейство 123 ВТСП оксидов особенности строения
1.2. Двойникование 123 ВТСП оксидов
1.3. Влияние двойниковой структуры на физические свойства
1 23 ВТС оксидов кристаллов и пленок
1.4. ротяженные двойниковые границы в сегнетоэлектриках
1.5. Нсцентросимметричность в псровскитах
1.6. Выводы литературного обзора и постановка задачи.
Глава 2. АППАРАТУРА И МЕТОДИКА РЕНТГЕНОВСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ
2.1. Приготовление образцов для исследования.
2.2. Рентгендифрактомстрия монокристаллов
2.2.1. Рентгендифрактометрия монокристаллов в асимметричной геометрии.
2.3. Методы рентгеновской топографии.
2.3.1. Сканирование по 0 .
2.3.2. Сканирование по 0.
2.3.3. Асимметричные схемы топографии сканирования 0 и 0
2.4. Основные выводы по методической части.
Глава 3. СТРУКТУРА ДВОЙНИКОВЫХ ГРАНИЦ, ГРАНИЦ ДОМЕНОВ МНОГОФАЗНЫХ КРИСТАЛЛОВ И ОСОБЕННОСТИ ДВОЙНИКОВ АН ИЯ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ ПЛЕНОК УВа2Си7х
3.1. Структура двойниковой границы в кристаллах
УВа2Си7.х.
3.2. Структура межфазовой границы в кристаллах УВа2Сиз.х, отожженных в иоде
3.3. Двойниковая структура пленок УВа2Си7.х на ИаОаОз .
3.4. Двойникование ЬаваОз
3.5. Двойниковая структура пленок УВа2Сиз.х на А с буферным слоем Сс
3.6. Заключение по главе 3.
Глава 4. ДИНАМИЧЕСКИЕ ДИФРАКЦИОННЫЕ ЭФФЕКТЫ В КРИСТАЛЛАХ ВТСП.
4.1. Аномальное прохождение рентгеновских лучей в кристаллах ВТСП
4.2. Рентгеновская динамическая топография кристаллов НиВа2Сизх .
4.3. Заключение по главе 4.
ВЫВОДЫ.
ЛИТЕРАТУРА
- Київ+380960830922