- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2003
Кількість сторінок:
136
Артикул:
136560 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Халькогениды элементов четвертой группы : Получение, исследование и применение
- Термо- и фотостимулированные процессы в системах полупроводник - металл, полупроводник - органическая среда
- Влияние положительного и отрицательного давления на фазовый переход в некоторых широкощельных, узкощельных и слоистых сегнетоэлектриках
- Электронные процессы в системе Me-Ga2Se3-(SiOx)Si с различными металлическими контактами
- Влияние внешних воздействий на диэлектрические и оптические свойства сегнетоэлектриков с различным электронным спектром
- Субнаносекундные коммутаторы на основе гетеропереходов в системе GaAs(InGaAs)-AlGaAs : Разработка технологии и исследование свойств
- Исследование магнитотранспорта на гетерогранице II типа в системе GaInAsSb/InAs(GaSb)
- Разработка методики и изучение ультраакустических свойств расплавов полуметаллов и полупроводников
- Исследование электрофизических свойств двухкомпонентной слоистой структуры, состоящей из жидких органических веществ
- Процессы переноса и захвата заряда в системе электролит-нитрид кремния-окисел-кремний