- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения
Тип работы:
кандидатская
Год:
2003
Количество страниц:
136
Артикул:
136560 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Особенности электронно-энергетического строения наноразмерных структур на основе кремния и фосфидов типа А3В5
- Исследование процессов образования, активации и аннигиляции электрически активных точечных дефектов в CdxHg1-xTe
- Полупроводниковые элементы интегральной оптики, полученные с использованием ионно-плазменного напыления
- Влияние глубоких центров на физические процессы в кремниевых барьерных структурах
- Релаксационная спектроскопия глубоких уровней в нелегированных и легированных сурьмой эпитаксиальных слоях GaAs
- Генерационно-рекомбинационные процессы в кремниевых лавинных диодах
- Разработка и исследование молекулярно-лучевой эпитаксии наноструктур ZnCdSeS/GaAs из металлорганических соединений
- Исследование пленок нитрида галлия, выращенных методом хлоридгидридной газофазной эпитаксии
- Разработка физических основ применения ионно-стимулированных процессов для синтеза и модификации оптических материалов
- Получение твердых растворов (SiC)1-x(AlN)x методом магнетронного распыления и исследование их свойств