- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2006
Кількість сторінок:
148
Артикул:
7312 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование особенностей взаимодействия электромагнитных полей с полупроводниковыми приборами в схемах СВЧ
- Особенности формирования фазовых неоднородностей в гетероэпитаксиальных слоях InP и InGaAs
- Взаимодействие носителей заряда с акустическими фононами в низкоразмерных полупроводниковых системах
- Образование деффектов в полупроводниковых соединениях Cd/x Hg/1-x Te под действием облучения
- Генерационные процессы в тонкопленочных электролюминесцентных структурах на основе сульфида цинка, легированного марганцем
- Частотные свойства магнитомягких ферритов с различной микроструктурой и формой
- Электронное состояние поверхности GaAs и InP : Диагностика, управление, пассивация
- Особенности процесса переноса внедряемых ионов и атомов отдачи при имплантации в твердые тела
- Дихроизм и двулучепереломление растворов красителей, наведенные пикосекундными световыми импульсами, и их использование
- Гистерезисные и автоволновые явления в полупроводниковом интерферометре Фабри-Перо с термооптической нелинейностью