- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2006
Кількість сторінок:
148
Артикул:
7312 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Трехканальный детектор на основе РОС гетеролазеров InGaAs для мониторинга
- Разработка физических основ создания градиентных стеклообразных диэлектриков
- Взаимодействие экситонов и носителей заряда в электрическом поле поверхностной акустической волны в GaAs/AlAs сверхрешетках второго рода
- Инжекционные лазеры с квантовыми точками, работающие в непрерывном режиме
- Разработка и экспериментальная проверка статической модели расчёта максимального управляемого тока МОП тиристора
- Структура пленок аморфного германия
- Создание и исследование оптоэлектронных приборов в средней инфракрасной области спектра на основе узкозонных гетероструктур A3B5
- Особенности формирования и физические свойства наноразмерных структур на основе висмута
- Экситонные и плазмонные эффекты в неидеальных вюрцитных полупроводниковых кристаллах и наноструктурах
- Исследование электронных состояний на поверхности теллура при низких температурах