Ви є тут

Материаловедческие основы технологии получения термоэлектрических модулей из слитков твердых растворов Bi2 Te3-Bi2 Se3 и Bi2 Te3-Sb2 Te3 большого диаметра

Автор: 
Фролов Андрей Михайлович
Тип роботи: 
кандидатская
Рік: 
2002
Кількість сторінок: 
172
Артикул:
233151
179 грн
Додати в кошик

Вміст

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ З
ГЛАВА I. СВОЙСТВА, ПОЛУЧЕНИЕ И ИССЛЕДОВАНИЕ ТРОЙНЫХ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ НА ОСНОВЕ ВьТслА и ВЬхБЬхТез.В
1.1. Структура и физикохимические свойст ва В2Тез, Вех, БЬДез и твердых растворов
на их основе.
1.2. Диаграммы состояния ВТе, В2 Те В2ез
и В2Тег БЫГезП
1.3. Влияние отжига на свойства сплавов
В2Тез Ве. и В2Тез ЬТез.
1.4. Методы получения поликристаллических материалов на основе тройных твердых растворов систем ВьТез.хЯе и 5Ь2.Х ВхТез .
1.5. Проблемы коммутации на границе твердых растворов полупроводников и контактных материалов
ГЛАВА II. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕ1ТА.
2.1. Объекты исследования.
2.2. Подготовка поверхности исследуемых образцов.
2.3. Рентгсндифракционный анализ структуры, фазового состава, параметра кристаллической решетки и текстуры крупнозернистых текстурованных объектов
2.4. Методика выявления формы фронта кристаллизации в слитках термоэлектрических материалов птнпа проводимости
2.5. Прицельная дифрактометрия для оценки неоднородности состава твердого раствора по изменению параметра кристаллической решетки вдоль фронта кристаллизации.
2.6. Методика изучения преимущественных
ГЛАВА III.
ориентировок в слитках р и птипов проводи мости. 5
2.6.1. Построение стандартных стереографических проекций для гексагональной кристаллической решетки
2.6.2. Построение обратных полюсных фигур
2.6.3. Построение диаграмм анизотропии эллипсоидов вращения для оценки анизотропии
электрических параметров.
2.7 Оценка структурной и химической неоднородности в слитках ртипа проводимости
2.7.1. Подготовка поверхности шлифов для исследования.
2.7.2. Измерение коэффициента отражения К
2.7.3. Измерение микротвердости Мшу
2.7.4. Элементный анализ.
2.8. Изучение трещинообразования методами изменения горячей и холодной микротвердости. 2.9 Методика оценки термических напряжений на границе зерен
Выявление влияния технологических параметров на структуру полнкристаллнчсских слитков термоэлектрических материалов большого диаметра
3.1. Влияние технологических условий роста слитков ТЭМ большого диаметра на их структуру и уровень
термоэлектрических свойств
3.2. Влияние параметров синтеза на фазовый состав лигатуры ВБеС.
3.3. Анализ анизотропии свойств твердого раствора В2Тесо,зЮ
3.4. Влияние гомогенизирующего отжига на характеристики структурных составляющих крупнозернистых слитков на примере ртипа проводимости.
3.5. Исследование однородности слитков
3.6. Зависимость разрушения растрескивания от характера структуры поликристаллических слитков
ТЭМ птнпа на основе твердых растворов ВТе3
3.7 Выводы к главе III.
ГЛАВА IV Влияние способа обработки поверхности на фазовый состав и структуру поверхностных слоев ТЭМ на основе тройных твердых растворов В2Тез.хЯс х
и БЬгхВТез
Выводы к главе IV.
ГЛАВА V. Использование акустической микроскопии для
анализа текстуры крупнокристаллических слитков ТЭМ.
5.1. Методика ультразвуковой микроскопии
5.2. Построение указательных поверхностей акустических параметров кристаллов
5.3. Возможности использования ультразвуковой микроскопии для анализа текстуры
5.4. Вы воды к главе V
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА