- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе ?-Si
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2005
Кількість сторінок:
172
Артикул:
136711 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе Z-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
- Полупроводниковые микроструктуры на основе соединений AIIIBV, полученные методом реактивного ионного травления
- Энергетический спектр гетероструктур GaAs/GaP и GaSb/GaP
- Кинетико-релаксационные процессы зарядового перераспределения в структурах на основе кристаллов силленитов
- Эффекты низкоэнергетического ионного воздействия при эпитаксии Ge на Si
- Электронная структура дефектов в оксиде и нитриде кремния
- Взаимодействие дефектов в кристаллической решетке теллурида кадмия
- Влияние давления на гальваномагнитные свойства полупроводниковых соединений TlSe и его аналогов
- Исследование границы раздела и приповерхностных слоев полупроводника в системах электролит-полупроводник с помощью емкостных методов
- Арсенид галлия : Радиационные дефекты и ионизационные детекторы ядерного излучения